GB/T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧 點(diǎn)擊下載...

GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db 交變濕熱(12h＋12h循環(huán)) 點(diǎn)擊下載...

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫 點(diǎn)擊下載...

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B 高溫 點(diǎn)擊下載...

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫 點(diǎn)擊下載...

使用試驗(yàn)箱等設(shè)備的目的是通過(guò)模擬各種環(huán)境測(cè)試件的性能，但有時(shí)測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。誰(shuí)造成了麻煩，哪一部分有問(wèn)題？...